目的:通过观察孕鼠慢性砷暴露对胎鼠脑组织DNA的损伤和子代记忆功能的影响,为探讨砷对胎儿的神经毒作用机制提供依据.方法:雌性小鼠受孕后第2天开始以自由饮水方式分别暴露于0 ppm(对照组)、2 ppm、4 ppm的As2O3水溶液,连续染毒直到仔鼠出生,饲养48天,每组随机取仔鼠10只,雌雄各半,共30只,利用Morris水迷宫定向航行实验连续观察5天,每天观察3次,测定小鼠的逃避潜伏期.另取同窝别30只新生小鼠断头处死并立即取脑固定,用免疫组化方法观察脑组织神经细胞中8-羟基脱氧鸟嘌呤(8-OHdG)的表达.结果:Morris水迷宫实验结果表明,第1、3、5天,4 ppm染砷组小鼠的逃避潜伏期显著长于对照组(P<0.01).而且第3天,该染砷组小鼠的逃避潜伏期也显著长于2 ppm染砷组(P<0.05).2 ppm染砷组小鼠的逃避潜伏期与对照组比较均无显著性差异.染砷组仔鼠脑皮质神经细胞中8-OHdG呈现高表达,尤其4 ppm染砷组仔鼠脑皮质神经细胞中的8-OHdG表达显著高于其他两组.结论:孕鼠慢性砷暴露可引起子代小鼠神经组织DNA的氧化损伤,并且影响子代小鼠的记忆功能.
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